School of Microelectronics
and Solid-State Electronics
第三章
多指标问题及正交表在试验设计中的灵活运用
因素
内容
A
B
C
D
E
F
镀速
mg
/
h
K
1
476.4
483.6
468.9
456.15
415.65
372.15
K
2
399.4
465.65
489.45
530.4
421.5
473.1
K
3
479.85
447.9
409.95
414.45
480.9
483.75
K
4
456.45
533.6
530.1
456.3
507.45
483.6
K
5
538.25
460.95
451.95
493.05
524.85
570.15
k
1
95.28
96.72
93.78
91.23
83.13
74.43
k
2
79.88
93.13
97.89
106.08
84.3
94.62
k
3
95.97
89.58
81.99
82.89
96.18
96.75
k
4
91.29
106.72
106.02
91.26
101.49
96.72
k
5
107.65
92.19
90.39
98.61
104.97
114.03
R
27.77
17.14
24.03
23.19
21.84
39.6
光亮度
K
1
35
35
40
32
31
31
K
2
32
40
33
39
34
33
K
3
31
33
31
36
36
38
K
4
42
40
34
37
39
39
K
5
39
31
41
35
39
38
k
1
7.0
7.0
8.0
6.4
6.2
6.2
k
2
6.4
8.0
6.6
7.8
6.8
6.6
k
3
6.2
6.6
6.2
7.2
7.2
7.6
k
4
8.4
8.0
6.8
7.4
7.8
7.8
k
5
7.8
6.2
8.2
7.0
7.8
7.6
R
3.2
1.8
2.0
1.4
1.6
1.6