School of Microelectronics
and Solid-State Electronics
第三章 多指标问题及正交表在试验设计中的灵活运用
K1
K2
K3
K4
k1
k2
k3
k4
R
R’
S
41
24
19
27
5.1
3.0
2.4
3.4
2.7
3.4
33.34
48
63
3.0
3.9
0.9
2.6
7.031
64
47
4.0
2.9
1.1
3.1
9.03
57
54
0.28
59
52
1.53
K=111
P=385.03
前进
试验方案及计算结果表（续表）