School of Microelectronics
and Solid-State Electronics
第三章
多指标问题及正交表在试验设计中的灵活运用
部分追加法方差分析
Ø
某试验中，因素A为五水平，B、C、D为两
水平。A的1～4四个水平采用本章第二节的方
法安排在内(1)～(3)列组成的四水平新列内
，A5则将4水平再重复两次,即第9、10两次试
验,这样就完成了部分追加法试验设计。
