School of Microelectronics
and Solid-State Electronics
第三章
多指标问题及正交表在试验设计中的灵活运用
92.3
90.4
87.3
88.0
87.3
84.8
83.4
84.0
92.3
90.4
87.3
88.0
87.3
84.8
82.0
81.5
