School of Microelectronics
and Solid-State Electronics
第三章 多指标问题及正交表在试验设计中的灵活运用
Ø把A安排在第1列，B安排在第2列，C在第4列
–1：A1B1C1D1E1
–2：A1B1C2D2E2
–3：A1B2C1D2E2
–4：A1B2C2D1E1
–5：A2B1C1D1E1
–6：A2B1C2D2E1
–7：A2B2C1D2E1
–8：A2B2C2D1E2