School of Microelectronics
and Solid-State Electronics
第三章
多指标问题及正交表在试验设计中的灵活运用
Ø
A
、
B
、
C
分别在
1
、
2
、
3
列
–
1
：
A
1
B
1
C
1
D
1
E
1
–
2
：
A
1
B
1
C
1
D
2
E
2
–
3
：
A
1
B
2
C
2
D
2
E
2
–
4
：
A
1
B
2
C
2
D
1
E
1
–
5
：
A
2
B
1
C
2
D
1
E
1
–
6
：
A
2
B
1
C
2
D
2
E
1
–
7
：
A
2
B
2
C
1
D
2
E
1
–
8
：
A
2
B
2
C
1
D
1
E
2
Ø
